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日本新光AF-220E精密電子分析天平

產品簡介

日本新光AF-220E精密電子分析天平：量程220g,精度0.1mg，稱盤尺寸為∮80mm，具自動偵測零點、水平位置及溫度功能，以確保秤重準確；特殊拉門設計,多種開關選擇；

產品型號：AF-220E精密電子分析天平
更新時間：2017-07-19
廠商性質：代理商
訪問量：1176
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日本新光AF-220E精密電子分析天平

AF-220E精密電子分析天平 日本新光
 
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常備現貨
 
產品說明：
● 具自動偵測零點、水平位置及溫度功能，以確保秤重準確；
●  特殊拉門設計,多種開關選擇
    1. 防風罩兩側也拉門式設計, 皆可開、關（一手拿秤物時, 另一手可以拉開防風罩, 非常方便）；
   2. 防風罩及秤盤都是組合式, 可拆卸；
   3. 玻璃內面, 秤盤計量皿皆可以清潔；
   4. 沒軌道的設計,不易留灰塵或粉末；
 

型號
AF-220E
AF-R220E
量程
220g
精度
0.0001g
秤盤尺寸（mm
∮80mm
體積W*D*H（mm）
320*210*335mm
電源
AC120/230V DC9V
輸出方式
RS-232C
重量
5.2kg
5.5kg

 
附加：AF-（R）內藏校正砝碼，具有自動校正功能，「CAL」鍵ONE TOUCH自動校正，接上印表機即可列印校正紀錄及SPAN TEST, 可顯示日期、時間等。亦可保存歷史紀錄。
 
 

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