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日本新光AF-R220E精密電子分析天平

產品簡介

日本新光AF-R220E精密電子分析天平:量程220g,精度0.1mg,稱盤尺寸為∮80mm,具自動偵測零點、水平位置及溫度功能,以確保秤重準確;特殊拉門設計,多種開關選擇;

產品型號:AF-R220E精密電子分析天平
更新時間:2017-07-19
廠商性質:代理商
訪問量:1361
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日本新光AF-R220E精密子分析天平

AF-R220E精密電子分析天平 日本新光
 
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常備現貨
 
產品說明
● 具自動偵測零點、水平位置及溫度功能,以確保秤重準確;
●  特殊拉門設計,多種開關選擇
    1. 防風罩兩側也拉門式設計, 皆可開、關(一手拿秤物時, 另一手可以拉開防風罩, 非常方便);
   2. 防風罩及秤盤都是組合式, 可拆卸;
   3. 玻璃內面, 秤盤計量皿皆可以清潔;
   4. 沒軌道的設計,不易留灰塵或粉末;
 

型號
AF-220E
AF-R220E
量程
220g
精度
0.0001g
秤盤尺寸(mm
∮80mm
體積W*D*H(mm)
320*210*335mm
電源
AC120/230V DC9V
輸出方式
RS-232C
重量
5.2kg
5.5kg

 
附加:AF-(R)內藏校正砝碼,具有自動校正功能,「CAL」鍵ONE TOUCH自動校正,接上印表機即可列印校正紀錄及SPAN TEST, 可顯示日期、時間等。亦可保存歷史紀錄。
 
 

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